收藏 | SIP封装工艺流程( 二 )


4.1.1圆片减薄
圆片减薄是指从圆片背面采用机械或化学机械(CMP)方式进行研磨 , 将圆片减薄到适合封装的程度 。 由于圆片的尺寸越来越大 , 为了增加圆片的机械强度 , 防止在加工过程中发生变形、开裂 , 其厚度也一直在增加 。 但是随着系统朝轻薄短小的方向发展 , 芯片封装后模块的厚度变得越来越薄 , 因此在封装之前一定要将圆片的厚度减薄到可以接受的程度 , 以满足芯片装配的要求 。
4.1.2圆片切割
圆片减薄后 , 可以进行划片 。 较老式的划片机是手动操作的 , 现在一般的划片机都已实现全自动化 。 无论是部分划线还是完全分割硅片 , 目前均采用锯刀 , 因为它划出的边缘整齐 , 很少有碎屑和裂口产生 。
4.1.3芯片粘结
已切割下来的芯片要贴装到框架的中间焊盘上 。 焊盘的尺寸要和芯片大小相匹配 , 若焊盘尺寸太大 , 则会导致引线跨度太大 , 在转移成型过程中会由于流动产生的应力而造成引线弯曲及芯片位移现象 。 贴装的方式可以是用软焊料(指Pb-Sn合金 , 尤其是含Sn的合金)、Au-Si低共熔合金等焊接到基板上 , 在塑料封装中最常用的方法是使用聚合物粘结剂粘贴到金属框架上 。
4.1.4引线键合
在塑料封装中使用的引线主要是金线 , 其直径一般为0.025mm~0.032mm 。 引线的长度常在1.5mm~3mm之间 , 而弧圈的高度可比芯片所在平面高0.75mm 。
键合技术有热压焊、热超声焊等 。 这些技术优点是容易形成球形(即焊球技术) , 并防止金线氧化 。 为了降低成本 , 也在研究用其他金属丝 , 如铝、铜、银、钯等来替代金丝键合 。 热压焊的条件是两种金属表面紧紧接触 , 控制时间、温度、压力 , 使得两种金属发生连接 。 表面粗糙(不平整)、有氧化层形成或是有化学沾污、吸潮等都会影响到键合效果 , 降低键合强度 。 热压焊的温度在300℃~400℃ , 时间一般为40ms(通常,加上寻找键合位置等程序 , 键合速度是每秒二线) 。 超声焊的优点是可避免高温 , 因为它用20kHz~60kHz的超声振动提供焊接所需的能量 , 所以焊接温度可以降低一些 。 将热和超声能量同时用于键合 , 就是所谓的热超声焊 。 与热压焊相比 , 热超声焊最大的优点是将键合温度从350℃降到250℃左右(也有人认为可以用100℃~150℃的条件) , 这可以大大降低在铝焊盘上形成Au-Al金属间化合物的可能性 , 延长器件寿命 , 同时降低了电路参数的漂移 。 在引线键合方面的改进主要是因为需要越来越薄的封装 , 有些超薄封装的厚度仅有0.4mm左右 。 所以引线环(loop)从一般的200μm~300μm减小到100μm~125μm , 这样引线张力就很大 , 绷得很紧 。 另外 , 在基片上的引线焊盘外围通常有两条环状电源/地线 , 键合时要防止金线与其短路 , 其最小间隙必须>625μm , 要求键合引线必须具有高的线性度和良好的弧形 。
4.1.5等离子清洗
清洗的重要作用之一是提高膜的附着力 , 如在Si衬底上沉积Au膜 , 经Ar等离子体处理掉表面的碳氢化合物和其他污染物 , 明显改善了Au的附着力 。 等离子体处理后的基体表面 , 会留下一层含氟化物的灰色物质 , 可用溶液去掉 。 同时清洗也有利于改善表面黏着性和润湿性 。
4.1.6液态密封剂灌封
将已贴装好芯片并完成引线键合的框架带置于模具中 , 将塑封料的预成型块在预热炉中加热(预热温度在90℃~95℃之间) , 然后放进转移成型机的转移罐中 。 在转移成型活塞的压力之下 , 塑封料被挤压到浇道中 , 并经过浇口注入模腔(在整个过程中 , 模具温度保持在170℃~175℃左右) 。 塑封料在模具中快速固化 , 经过一段时间的保压 , 使得模块达到一定的硬度 , 然后用顶杆顶出模块 , 成型过程就完成了 。 对于大多数塑封料来说 , 在模具中保压几分钟后 , 模块的硬度足可以达到允许顶出的程度 , 但是聚合物的固化(聚合)并未全部完成 。 由于材料的聚合度(固化程度)强烈影响材料的玻璃化转变温度及热应力 , 所以促使材料全部固化以达到一个稳定的状态 , 对于提高器件可靠性是十分重要的 , 后固化就是为了提高塑封料的聚合度而必需的工艺步骤 , 一般后固化条件为170℃~175℃ , 2h~4h 。